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顯微鏡:顯微鏡類型單筒顯微鏡/體視顯微鏡 放大倍率16X-200X 移動行程水平方向繞立柱360度旋轉,Z軸50.8mm 光源外置LED無極調節亮度環形光源
更新時間:2025-05-30
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* 適用于6英寸以內的各種半導體器件的高精度測試 *同軸驅動CHUCK *可以升級做射頻測試 *20X~2000X 光學顯微放大 *無后座力移動 *可以選擇顯微鏡傾仰裝置或者氣動升降裝置
更新時間:2025-05-30
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GDWT-480型全自動型高低溫真空探針臺主要應用于I-V/C-V,PIV測試,傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電子樣品測量的研發,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本,可以配合Keithley,Tektronix等國內外各種源表對材料進行測試,可以做材料的介電,鐵電等測試,是目前高等院校和研究所及材料生產單位的重要輔助設備。
更新時間:2025-07-21
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在實際得科研生產中,由于樣品/晶圓(Wafer)得尺寸越來越大,用于測試得探針臺相當昂貴,我司根據客戶市場應用自主研發得這款結構小巧,功能實用,成本較低得簡易式探針臺,在滿足基本測試功能基礎上,去除了非必要得部件,該探針臺系統包含:光學成像部分,隔振平臺,探針座,四維調整載片臺(Chuck),真空吸附系統;
更新時間:2025-05-30
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JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價格實惠,配置靈活,性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺是。
更新時間:2025-05-30
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JKZC-DN系列探針臺是我司一款增強型晶圓測試探針臺,最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺釆 用高剛性顯微鏡龍門結構,顯微鏡可X-Y-Z方向進行精密位移調節。卡盤具備上下調節功能,可以使探針與 樣品快速分離,提高測試效率,在科研單位和半導體工廠都得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,可以完 成集成電路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性測試/管芯晶圓LED/LCD
更新時間:2025-05-30
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